Počet záznamů: 1
Detecting sp.sup.2./sup. phase on diamond surfaces by atomic force microscopy phase imaging and its effects on surface conductivity
- 1.
SYSNO ASEP 0328164 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Detecting sp2 phase on diamond surfaces by atomic force microscopy phase imaging and its effects on surface conductivity Překlad názvu [Detekce sp2 fáze na povrchu diamantu pomoci mikroskopii atomárních sil a její vliv na povrchovou vodivost Tvůrce(i) Kozak, Halyna (FZU-D) RID, ORCID
Kromka, Alexander (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Ukraintsev, Egor (FZU-D) RID, ORCID
Houdková, Jana (FZU-D) RID, ORCID
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCIDCelkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Diamond and Related Materials. - : Elsevier - ISSN 0925-9635
Roč. 18, 5-8 (2009), s. 722-725Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CH - Švýcarsko Klíč. slova nanocrystalline diamond ; surface conductivity ; non-diamond phase ; photolithography ; XPS ; AFM ; SEM ; Raman spectroscopy Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100652 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000267737000008 DOI 10.1016/j.diamond.2009.02.010 Anotace The effect of deposition parameters and chemical treatment on the surface conductivity of nanocrystalline diamond films was study by atomic force microscopy, XPS, SEM and Raman spectroscopy. The results indicate the decrease in sp2 amount and enhanced surface conductivity of the diamond surface after the chemical treatment. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1