Počet záznamů: 1
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM
- 1.
SYSNO ASEP 0322208 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM Překlad názvu Příprava lokalizovaných tenkých folií z bi- a trikrystalů Fe-3%Si pro FEG-STEM vyšetřování Tvůrce(i) Sorbello, F. (GB)
Hughes, G.M. (GB)
Lejček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Heard, P.J. (GB)
Flewitt, P.E.J. (GB)Zdroj.dok. Ultramicroscopy. - : Elsevier - ISSN 0304-3991
Roč. 109, č. 2 (2009), 147-153Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova FEG-STEM ; Fe-3%Si ; Thin foils ; focused ion beam Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP IAA1010414 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000263217000002 DOI 10.1016/j.ultramic.2008.08.011 Anotace The grain boundary triple junction has been extracted from the tri-crystal and examined in high-resolution aberration-corrected FEG-STEM instruments. An in situ focused ion beam lift-out technique has been combined with an additional precision ion-polishing stage to reproducibly provide thin-foil specimens suitable for high-resolution EELS and EDX analysis. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1