Počet záznamů: 1
Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami
- 1.
SYSNO ASEP 0320868 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami Překlad názvu Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques Tvůrce(i) Čermák, Jan (FZU-D) RID, SAI, ORCID
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Cimrová, Věra (UMCH-V) RID, ORCID
Hörhold, H. H. (DE)
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, 2008 - ISBN 978-80-254-3528-1 Rozsah stran s. 31-33 Poč.str. 3 s. Akce Česká fotovoltaická konference /3./ Datum konání 03.11.2008-05.11.2008 Místo konání Brno Země CZ - Česká republika Typ akce CST Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova AFM ; KFM ; Raman scattering ; organic semiconductors ; photovoltaics Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GD202/05/H003 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) Anotace Studium strukturních, elektrických a optoelektronických heterostruktur pomocí AFM, KFM, CS-AFM a mapování mikro-Ramanova rozptylu. Překlad anotace Study of morphologic, electronic and optoelectronic properties of organic heterostructures by AFM, KFM, CS-AFM and micro-Raman mapping. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1