Počet záznamů: 1
Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films
- 1.
SYSNO ASEP 0320025 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films Překlad názvu Charakterizace fotoindukovaných změn v amorfních filmech Ge-As-S pomocí AFM a AFAM Tvůrce(i) Knotek, P. (CZ)
Tichý, Ladislav (UMCH-V) RIDZdroj.dok. Thin Solid Films. - : Elsevier - ISSN 0040-6090
Roč. 517, č. 5 (2009), s. 1837-1840Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova amorphous materials Vědní obor RIV CA - Anorganická chemie CEZ AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) UT WOS 000262346900062 DOI 10.1016/j.tsf.2008.09.041 Anotace Amorphous Ge27As13S60, Ge14As27S59 and Ge16As26S58 thin films were prepared by thermal evaporation. Well annealed films were photodarkened by the photons with energy little exceeding the band gap energy. Using Atomic Force Microscopy we observed significant photoexpansion of studied films. Atomic Force Acoustic Microscopy revealed domains like structure of the surface and near surface parts of the samples which one was found to be more disintegrated after illumination. Pracoviště Ústav makromolekulární chemie Kontakt Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1