Počet záznamů: 1
The use of an optically trapped microprobe for scanning details of surface
- 1.
SYSNO ASEP 0205715 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název The use of an optically trapped microprobe for scanning details of surface Tvůrce(i) Šerý, Mojmír (UPT-D) RID, SAI
Jákl, Petr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Ježek, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Jonáš, Alexandr (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Zemánek, Pavel (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Liška, M. (CZ)Zdroj.dok. Proceedings of the 13th Polish-Czech-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics (Proc. SPIE 5259). - Washington : SPIEThe International Society for Optical Engineering, 2003 Rozsah stran s. 166 - 169 Poč.str. 4 s. Akce SPIE: Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics Datum konání 09.09.2002-13.09.2002 Místo konání Krzyzowa Země PL - Polsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. PL - Polsko Klíč. slova optical tweezers ; two-photon fluorescence ; surface profiling Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GA101/00/0974 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace We present two methods for surface profiles measurement using optically trapped probe in tightly focused laser beam (optical tweezers). The first method is based on a continuous contact of the probe with the surface (contact mode) and the second one employes the alternating contact (tapping mode). The probe deviations are detected by two-photon fluorescence excited by the trapping beam and emitted by the trapped dyed probe. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2004
Počet záznamů: 1