Počet záznamů: 1  

Backscattered electron imaging using the improved YAG scintillation detector

    1.
    SYSNO ASEP0205648
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevBackscattered electron imaging using the improved YAG scintillation detector
    Tvůrce(i) Autrata, Rudolf (UPT-D)
    Matějková, Jiřina (UPT-D)
    Zdroj.dok.Proceedings of the 6th Multinational Congress on Microscopy - European Extension / Milat O. ; Ježek D.. - Zagreb : Croatian Society for Electron Microscopy, 2003
    Rozsah strans. 450 - 451
    Poč.str.2 s.
    AkceMCEM
    Datum konání01.06.2003-05.06.2003
    Místo konáníPula
    ZeměHR - Chorvatsko
    Typ akceEUR
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.HR - Chorvatsko
    Klíč. slovabackscattered electron ; scintillator ; detector
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPIBS2065107 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z2065902 - UPT-D
    AnotaceIt is known that the E-T scintillation PMT system [1] represents the most efficient detector of signal electrons in the SEM. Today, practically all types of SEMs are standardly equipped with this detector for the detection of secondary electrons (SEs). For backscattered electrons (BSEs) not only scintillation detector but also semiconductor and channel plate detectors are used. The highest detection quantum efficiency (DQE) is achieved with the scintillation detector on the basis of the yttrium aluminium garnet single crystal scintillator (YAG)[2].
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2004

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše