Počet záznamů: 1  

Advances in Imaging and Electron Physics

  1. 1.
    SYSNO ASEP0205556
    Druh ASEPM - Kapitola v monografii
    Zařazení RIVC - Kapitola v knize
    NázevAdvances in scanning electron microscopy
    Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok.Advances in Imaging and Electron Physics - ISSN 1076-5670
    Rozsah strans. 327 - 373
    Poč.str.46 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovascanning electron microscopy ; electron optics ; instrumens for study of surfaces
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPGA202/99/0008 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z2065902 - UPT-D
    AnotaceThe monograph defines a configuration, construction and electron optical parameters of a standard scanning electron microscope and it defines and analyses new principals and approaches towards this standard. All aspects of the device are dealt with including the detection system, mechanization of the construction, vacuum and control electronics. The attention is devoted to new trends, which are: microscopy at higher pressure, microscopy byvery slow electrons and multi-channel signal detection.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2003

Počet záznamů: 1