Počet záznamů: 1
Advances in Imaging and Electron Physics
- 1.
SYSNO ASEP 0205556 Druh ASEP M - Kapitola v monografii Zařazení RIV C - Kapitola v knize Název Advances in scanning electron microscopy Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID Zdroj.dok. Advances in Imaging and Electron Physics - ISSN 1076-5670 Rozsah stran s. 327 - 373 Poč.str. 46 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova scanning electron microscopy ; electron optics ; instrumens for study of surfaces Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA202/99/0008 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace The monograph defines a configuration, construction and electron optical parameters of a standard scanning electron microscope and it defines and analyses new principals and approaches towards this standard. All aspects of the device are dealt with including the detection system, mechanization of the construction, vacuum and control electronics. The attention is devoted to new trends, which are: microscopy at higher pressure, microscopy byvery slow electrons and multi-channel signal detection. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2003
Počet záznamů: 1