Počet záznamů: 1
Evaluation of GaAs and InP MSM detection of pulsed X-ray emission from laser plasmas
- 1.
SYSNO ASEP 0134620 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Evaluation of GaAs and InP MSM detection of pulsed X-ray emission from laser plasmas Tvůrce(i) Ryc, L. (PL)
Dubecky, F. (SK)
Pfeifer, Miroslav (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Pura, B. (PL)
Riesz, F. (HU)
Slysz, W. (PL)Zdroj.dok. Proceedings of the Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XII). - Bratislava : XX, 2002 Rozsah stran s. x-x Poč.str. 2 s. Akce Semiconducting and Insulating Materials Conference /12./ Datum konání 30.06.2002-05.07.2002 Místo konání Smolenice Castle Země SK - Slovensko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. SK - Slovensko Klíč. slova x-ray diagnostics ; time characteristics ; semiconductor detectors Vědní obor RIV BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech CEP LN00A100 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Anotace Fast response GaAs and InP x- ray photodiodes was evaluated. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2004
Počet záznamů: 1