Počet záznamů: 1

Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films

SYSNO ASEP	0133868
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Ostatní články
Název	Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films
Tvůrce(i)	Glinchuk, M. D. (UA) Eliseev, E. A. (UA) Deineka, Alexander (FZU-D) Jastrabík, Lubomír (FZU-D)_{RID, ORCID} Suchaneck, G. (DE) Sandner, T. (DE) Gerlach, G. (DE) Hrabovský, Miroslav (FZU-D)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Integrated Ferroelectrics - ISSN 1058-4587 Roč. 38, 1-4 (2001), s. 101-110
Poč.str.	10 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	GB - Velká Británie
Klíč. slova	thin film ; refraction index ; polarization ; film thickness
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z1010914 - FZU-D
Anotace	Analytical calculations of polarization and optical refraction index in ferroelectric thin films are performed in the framework of thermodynamic theory. The thickness dependence of the optical refraction index was found to be proportional to squared polarization.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2003

Počet záznamů: 1