Enhancement of SEM to scanning LEEM

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0088945
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Enhancement of SEM to scanning LEEM
Překlad názvu	Rozšíření SEM na rastrovací LEEM
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matsuda, K. (JP) Hrnčiřík, Petr (UPT-D) Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Surface Science. - : Elsevier - ISSN 0039-6028 Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773
Poč.str.	6 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	NL - Nizozemsko
Klíč. slova	SEM ; LEEM ; scanning LEEM
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	GA102/05/2327 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA202/04/0281 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
UT WOS	000250889500020
DOI	10.1016/j.susc.2007.05.042
Anotace	Paper summarizes ways to incorporating the scanning LEEM method into a conventional SEM via introduction of the cathode lens to below the objective lens. Basic properties of the scanning LEEM are provided.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2008

Počet záznamů: 1