Počet záznamů: 1
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors
- 1.Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna Mikmeková, Eliška
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. E-ISSN 2079-4991
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 5.3, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71
http://hdl.handle.net/11104/0326569
Počet záznamů: 1