Počet záznamů: 1
Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM
- 1.Mikmeková, Šárka - Jánský, P. - Kolařík, V. - Müllerová, Ilona
Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 444-445. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Obor OECD: Materials engineering
http://hdl.handle.net/11104/0306716
Počet záznamů: 1