Počet záznamů: 1  

STEM detector in SEM

  1. 1.
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Materna Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
    STEM detector in SEM.
    FEELIS-III. Amsterdam: ARCNL, 2018. s. 55-56.
    [LEELIS-III. Low Energy Elwctrons: Lithography, Imaging and Soft Matter. 12.11.2018-13.11.2018, Amsterdam]
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    http://hdl.handle.net/11104/0294115
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.