Počet záznamů: 1
Atomic Force Microscopy and Electron Microscopy Meeting
- 1.Vancová, Marie
Atomic Force Microscopy and Electron Microscopy Meeting.
[České Budějovice, 25.04.2017-25.04.2017, (W-EUR 25/9)]
Obor OECD: 2.11 Other engineering and technologies
http://hdl.handle.net/11104/0279890
Počet záznamů: 1