Počet záznamů: 1
High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon
- 1.Hovorka, Miloš - Frank, Luděk - Valdaitsev, D. - Nepijko, S. - Elmers, H. - Schönhense, G.
High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon.
Journal of Microscopy. Roč. 230, č. 1 (2008), s. 42-47. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Impakt faktor: 1.409, rok: 2008
http://hdl.handle.net/11104/0160757
Počet záznamů: 1