Počet záznamů: 1
Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK
- 1.Vacík, Jiří - Hnatowicz, Vladimír - Červená, Jarmila - Apel, P. Yu. - Posta, S. - Kobayashi, Y.
Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK.
Surface and Coatings Technology. Roč. 201, 19-20 (2007), s. 8370-8372. ISSN 0257-8972
Impakt faktor: 1.678, rok: 2007
http://hdl.handle.net/11104/0152088
Počet záznamů: 1