Počet záznamů: 1
Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process
- 1.Aglieri Rinella, G. - Andronic, A. - Antonelli, M. - Aresti, M. - Isakov, Artem - Kotliarov, Artem - Křížek, Filip … celkem 52 autorů
Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 1056, NOV (2023), č. článku 168589. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Obor OECD: Nuclear physics
Impakt faktor: 1.4, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://doi.org/10.1016/j.nima.2023.168589
https://hdl.handle.net/11104/0350772
Počet záznamů: 1