Počet záznamů: 1
Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions
- 1.Lorinčík, Jan - Veselá, D. - Vytykáčová, S. - Švecová, B. - Nekvindová, P. - Macková, Anna - Mikšová, Romana - Malinský, Petr - Boettger, R.
Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions.
Journal of Vacuum Science & Technology B. Roč. 34, č. 3 (2016), č. článku 03H129. ISSN 1071-1023
Impakt faktor: 1.573, rok: 2016
http://hdl.handle.net/11104/0263496
Počet záznamů: 1