Počet záznamů: 1
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
- 1.Holovský, Jakub - Dagkaldiran, U. - Remeš, Zdeněk - Purkrt, Adam - Ižák, Tibor - Poruba, Aleš - Vaněček, Milan
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates.
Physica Status Solidi A. Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
Impakt faktor: 1.458, rok: 2010
http://hdl.handle.net/11104/0201253
Počet záznamů: 1