Počet záznamů: 1
Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution
- 1.Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution.
Physica Status Solidi C. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 704-707. ISSN 1862-6351
http://www3.interscience.wiley.com/journal/123277609/abstract
http://hdl.handle.net/11104/0188466
Počet záznamů: 1