Počet záznamů: 1
Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length
- 1.Mikel, Břetislav - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length.
Africon 2009. Los Alamitos: IEEE, 2009, 5308091: 1-6. ISBN 978-1-4244-3918-8.
[Africon 2009. Nairobi (KE), 23.09.2009-25.09.2009]
http://hdl.handle.net/11104/0180969
Počet záznamů: 1