Počet záznamů: 1
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy
- 1.Pou, P. - Ghasemi, S.A. - Jelínek, Pavel - Lenosky, T. - Goedecker, S. - Perez, R.
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy.
Nanotechnology. Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Impakt faktor: 3.137, rok: 2009
http://hdl.handle.net/11104/0174960
Počet záznamů: 1