Počet záznamů: 1  

Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate

  1. 1.
    Ogane, A. - Honda, Shinya - Uraoka, Y. - Fuyuki, T. - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
    Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate.
    Journal of Crystal Growth. Roč. 311, č. 3 (2009), s. 789-793. ISSN 0022-0248. E-ISSN 1873-5002
    Impakt faktor: 1.534, rok: 2009
    http://hdl.handle.net/11104/0172268
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.