Počet záznamů: 1
Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope
- 1.0450818 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 21, S3 (2015), s. 29-30. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * LEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.730, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257504
Počet záznamů: 1