Počet záznamů: 1
Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films
- 1.0449326 - FZÚ 2016 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Šimek, Daniel - Kužel, R. - Rafaja, D.
Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films.
Journal of Applied Crystallography. Roč. 39, č. 4 (2006), s. 487-501. ISSN 0021-8898. E-ISSN 1600-5767
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: texture * stress * X-ray diffraction * reciprocal space mapping
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.495, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0250882
Počet záznamů: 1