Počet záznamů: 1
Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology
- 1.0375383 - ÚPT 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology.
International Journal of Nanotechnology. Roč. 9, 8/9 (2012), s. 695-716. ISSN 1475-7435. E-ISSN 1741-8151
Grant CEP: GA MŠMT OE08012; GA MŠMT ED0017/01/01; GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * very low energy electrons * cathode lens * grain contrast * strain contrast * imaging of participates * dopant contrast * very low energy STEM * graphene
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.087, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208054
Počet záznamů: 1