Počet záznamů: 1
Very low energy scanning electron microscopy
- 1.0358595 - ÚPT 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Very low energy scanning electron microscopy.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 645, č. 1 (2011), s. 46-54. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * low energy electrons * cathode lens * very low energy STEM * grain contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0196580
Počet záznamů: 1