Počet záznamů: 1
Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology
- 1.0351325 - ÚPT 2011 RIV GR eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír
Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology.
WSEAS Transactions on Circuits and Systems. Roč. 9, č. 10 (2010), s. 660-669. ISSN 1109-2734
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GA102/09/1276
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanopositioning * traceability
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191103
Počet záznamů: 1