Počet záznamů: 1
Profiling N-Type Dopants in Silicon
- 1.0340745 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Mikulík, P. - Frank, Luděk
Profiling N-Type Dopants in Silicon.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 237-242. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: silicon * dopant contrast * photoemission electron microscopy * scanning electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/237.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183926
Počet záznamů: 1