Počet záznamů: 1  

Calculation of aberration coefficients by ray tracing

  1. 1.
    0333615 - ÚPT 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Oral, Martin - Lencová, Bohumila
    Calculation of aberration coefficients by ray tracing.
    Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 11 (2009), s. 1365-1373. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: Aberrations * Aberration coefficients * Ray tracing * Regression * Fitting
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.067, rok: 2009

    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178557
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.