Počet záznamů: 1  

Xenon focused ion beam in the shape memory alloys investigation – the case of NiTi and CoNiAl

  1. 1.
    0481772 - FZU-D 2018 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Kopeček, Jaromír - Jurek, Karel - Kopecký, Vít - Klimša, Ladislav - Seiner, Hanuš - Sedlák, Petr - Landa, Michal - Dluhoš, J. - Petrenec, M. - Hladík, L. - Doupal, A. - Heczko, Oleg
    Xenon focused ion beam in the shape memory alloys investigation – the case of NiTi and CoNiAl.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 20, Aug (2014), s. 335-336. ISSN 1431-9276
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-03044S
    Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61388998
    Klíčová slova: scanning electron microscope * SEM * focused ion beam * FIB * xenon plasma focused ion beam * dual beam * shape memory alloy * SMA
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 1.877, rok: 2014
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277259