Počet záznamů: 1
Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples
- 1.0460209 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr
Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 48-49. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * SEM * crystallographic orientation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260341
Počet záznamů: 1