Počet záznamů: 1
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM
- 1.0352416 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I3.7: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * crystallinic structure * slow backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191924
Počet záznamů: 1