Počet záznamů: 1
Imaging of thermal treated thin films on silicon substrate in the scanning low energy electron microscope
- 1.0350672 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobačová, Jitka - Mikmeková, Šárka - Polčák, J. - Frank, Luděk
Imaging of thermal treated thin films on silicon substrate in the scanning low energy electron microscope.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 69-70. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: thin films * SLEEM * Si substrate
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350672_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190612
Počet záznamů: 1