Počet záznamů: 1
Ultrasharp Si nanowires produced by plasma-enhanced chemical vapor deposition
- 1.0341570 - FZÚ 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Červenka, Jiří - Ledinský, Martin - Stuchlíková, The-Ha - Stuchlík, Jiří - Výborný, Zdeněk - Holovský, Jakub - Hruška, Karel - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Ultrasharp Si nanowires produced by plasma-enhanced chemical vapor deposition.
Physica Status Solidi. Roč. 4, 1-2 (2010), s. 37-39. ISSN 1862-6254. E-ISSN 1862-6270
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: nanowires * silicon * scanning electron microscopy * hemical vapor deposition * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.660, rok: 2010
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/123213957/HTMLSTART
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184509
Počet záznamů: 1