Počet záznamů: 1
Characterization of different types of silica-based materials
SYS 0583058 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240402215228.3 017 $2 DOI 100 $a 20240221d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a CZ 200 1-
$a Characterization of different types of silica-based materials 215 $a 1 s. $c E 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0576073 $1 010 $a 978-80-907237-4-0 $1 200 1 $a Book of Abstracts of the 32st Joint Seminar Development of Materials Science in Research and Education (DMSRE) $v S. 17-17 $1 210 $a Praha $c Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences $d 2023 $1 702 1 $a Kožíšek $b Z. $4 340 $1 702 1 $a Král $b R. $4 340 $1 702 1 $a Zemanová $b P. $4 340 610 $a glass recycling 610 $a SiO2 powder 610 $a amorhpous 610 $a crystalline 700 -1
$3 cav_un_auth*0403049 $a Babčenko $b Oleg $p FZU-D $i Polovodiče $j Semiconductors $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100485 $a Remeš $b Zdeněk $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0400028 $a Beranová $b Klára $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0402992 $a Kolářová $b Kateřina $p FZU-D $i Polovodiče $j Semiconductors $y CZ $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100173 $a Čermák $b Jan $p FZU-D $i Polovodiče $j Semiconductors $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100328 $a Kromka $b Alexander $p FZU-D $i Polovodiče $j Semiconductors $w Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0377776 $a Prošek $b Z. $y CZ 701 -1
$3 cav_un_auth*0277625 $a Tesárek $b P. $y CZ 856 $9 RIV
Počet záznamů: 1