Počet záznamů: 1  

Robust Local Thickness Estimation of Sub-Micrometer Specimen by 4D-STEM

  1. SYS0579321
    LBL
      
    01000a^^22220027750^450
    005
      
    20240402214902.9
    014
      
    $a 85160667652 $2 SCOPUS
    014
      
    $a 37248805 $2 PUBMED
    014
      
    $a 000997748800001 $2 WOS
    017
    70
    $a 10.1002/smtd.202300258 $2 DOI
    100
      
    $a 20231211d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng $d eng
    102
      
    $a US
    200
    1-
    $a Robust Local Thickness Estimation of Sub-Micrometer Specimen by 4D-STEM
    215
      
    $a 11 s. $c E
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0525659 $1 011 $a 2366-9608 $e 2366-9608 $1 200 1 $a Small Methods $v Roč. 7, č. 9 (2023) $1 210 $c Wiley
    608
      
    $a Article
    610
      
    $a 4D-STEM
    610
      
    $a cryo-ET
    610
      
    $a FIB milling
    610
      
    $a TEM analysis
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0323997 $a Skoupý $b Radim $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $4 070 $q Delft Univ Technol, Dept Bionanosci, NL-2628 CD Delft, Netherlands, Delft Univ Technol, Kavli Inst Nanosci, NL-2628 CJ Delft, Netherlands, Delft Univ Technol, Dept Imaging Phys, NL-2628 CJ Delft, Netherlands $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0459713 $a Boltje $b D. B. $y NL $4 070 $q Delft Univ Technol, Dept Imaging Phys, NL-2628 CJ Delft, Netherlands,
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0103186 $a Šlouf $b Miroslav $p UMCH-V $i Polymerní materiály a technologie $j Polymer Materials and Technologies $k MATER $l MATER $4 070 $A 0000-0003-1528-802X $B F-6311-2012 $T Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0400001 $a Mrázová $b Kateřina $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0401347 $a Láznička $b Tomáš $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $4 070 $A 0000-0002-0801-1316 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0459714 $a Taisne $b C. M. $y NL $4 070 $q Delft Univ Technol, Dept Bionanosci, NL-2628 CD Delft, Netherlands,
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0286053 $a Krzyžánek $b Vladislav $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $4 070 $z K $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0459715 $a Hoogenboom $b J. P. $y NL $4 070 $z K $q Delft Univ Technol, Dept Imaging Phys, NL-2628 CJ Delft, Netherlands,
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0459716 $a Jakobi $b A. J. $y NL $4 070 $z K $q Delft Univ Technol, Dept Bionanosci, NL-2628 CD Delft, Netherlands,
    856
      
    $u https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/smtd.202300258 $9 RIV
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.