Počet záznamů: 1
Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration
SYS 0525112 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103224152.1 014 $a 85079696006 $2 SCOPUS 014 $a 32075242 $2 PUBMED 014 $a 000522456300151 $2 WOS 017 70
$a 10.3390/nano10020332 $2 DOI 100 $a 20200618d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a CH 200 1-
$a Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration 215 $a 11 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0445648 $1 011 $e 2079-4991 $1 200 1 $a Nanomaterials $v Roč. 10, č. 2 (2020) $1 205 $a ONLINE $1 210 $c MDPI 608 $a Article 610 $a SEM 610 $a quantitative imaging 610 $a back-scattered electrons 610 $a standardless calibration 610 $a electron mirror 610 $a sample bias 610 $a Monte Carlo simulation 610 $a thin coating layers 700 -1
$3 cav_un_auth*0323997 $a Skoupý $b Radim $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0258192 $a Fořt $b Tomáš $p UPT-D $i D2: Speciální technologie $j D2: New Technologies $w New Technologies $y CZ $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0286053 $a Krzyžánek $b Vladislav $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 $u https://www.mdpi.com/2079-4991/10/2/332 $9 RIV
Počet záznamů: 1