Počet záznamů: 1
Advanced techniques for low- and very-low energy SEM using reflected and transmitted signals
SYS 0519852 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240422135703.8 017 $2 DOI 100 $a 20200116d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a RS 200 1-
$a Advanced techniques for low- and very-low energy SEM using reflected and transmitted signals 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0519851 $1 010 $a 978-86-80335-11-7 $1 200 1 $a MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings $v S. 98-99 $1 210 $a Belgrade $c University of Belgrade $d 2019 610 $a very-low energy electron microscopy 610 $a very-low energy electron microscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0324291 $a Daniel $b Benjamin $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $y GB $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0371791 $a Materna Mikmeková $b Eliška $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1