Počet záznamů: 1
In-Lens Band-Pass Filter for Secondary Electrons in Ultrahigh Resolution SEM
SYS 0508751 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240422135700.7 014 $a 85070449469 $2 SCOPUS 014 $a 31330942 $2 PUBMED 014 $a 000480454300095 $2 WOS 017 70
$a 10.3390/ma12142307 $2 DOI 100 $a 20190924d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a CH 200 1-
$a In-Lens Band-Pass Filter for Secondary Electrons in Ultrahigh Resolution SEM 215 $a 13 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0378436 $1 011 $e 1996-1944 $1 200 1 $a Materials $v Roč. 12, č. 14 (2019) $1 205 $a ONLINE $1 210 $c MDPI 608 $a Article 610 $a band-pass filter of signal electrons 610 $a SE detection 610 $a trajectory simulations 700 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $z K $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0287343 $a Krátký $b Stanislav $p UPT-D $i D2: Speciální technologie $j D2: New Technologies $w New Technologies $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0371791 $a Materna Mikmeková $b Eliška $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 $9 RIV $u https://www.mdpi.com/1996-1944/12/14/2307/htm
Počet záznamů: 1