Počet záznamů: 1
SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje
SYS 0499163 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103221247.5 017 $2 DOI 100 $a 20190104d m y slo 03 ba 101 $a cze $d cze 102 $a CZ 200 1-
$a SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje 210 $a Brno $c FEI CZECH REPUBLIC $d 2018 215 $a 5 s. $c P 541 $a SMV-2018-21: Calculation of electron optical properties of XPS source $z eng 610 $a thermoemionic electron gun 610 $a space-charge 610 $a electron optics 700 -1
$3 cav_un_auth*0222137 $a Radlička $b Tomáš $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1