Počet záznamů: 1
Supersensitive surface imaging with very slow secondary electrons
SYS 0482727 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103215117.4 017 $2 DOI 100 $a 20171207d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a KR 200 1-
$a Supersensitive surface imaging with very slow secondary electrons 215 $a 1 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0485944 $1 200 1 $a The 3rd East-Asia Microscopy Conference. Abstract Proceeding $1 210 $a Seoul $c Korean Society of Microscopy $d 2017 610 $a supersensitive surface 610 $a very slow secondary electrons 700 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0354743 $a Tsukiori $b D. $y JP 701 -1
$3 cav_un_auth*0354744 $a Arai $b R. $y JP 701 -1
$3 cav_un_auth*0354745 $a Takano $b M. $y JP 701 -1
$3 cav_un_auth*0354746 $a Okuda $b K. $y JP 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1