Počet záznamů: 1
Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass
SYS 0458106 LBL 01579^^^^^2200337^^^450 005 20240103212059.2 100 $a 20150213d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a CZ 200 1-
$a Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass 210 $a Praha $c Tel Solar AG, Trübbach, Switzerland $d 2015 215 $a 22 s. $c E 300 $a Nový 2016 do RIV - oprava zdroje výsledku 610 0-
$a optical properties 610 0-
$a amorphous silicon 610 0-
$a microcrystalline silicon 610 0-
$a ZnO 700 -1
$3 cav_un_auth*0100605 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Vaněček $b Milan $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0225122 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Holovský $b Jakub $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100468 $i Optické materiály $j Optical Materials $4 070 $a Poruba $b Aleš $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100485 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Remeš $b Zdeněk $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0206015 $i Optické materiály $j Optical Materials $4 070 $a Purkrt $b Adam $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1