Počet záznamů: 1
Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections
SYS 0452276 LBL 02704^^^^^2200409^^^450 005 20240103211415.0 100 $a 20160223d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a HU 200 1-
$a Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections 215 $a 2 s. $c E 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0450821 $1 010 $a 978-963-05-9653-4 $1 200 1 $a 12th Multinational Congress on Microscopy $v S. 112-113 $1 210 $a Budapest $c Akadémiai Kiadó $d 2015 610 0-
$a STEM 610 0-
$a mass loss 610 0-
$a resin 610 0-
$a Epon 700 -1
$3 cav_un_auth*0323997 $a Skoupý $b Radim $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0286053 $a Krzyžánek $b Vladislav $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0323998 $a Kočová $b L. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*1105972 $a Nebesářová $b Jana $i PAU - Organismální a evoluční parazitologie $j Organismal and Evolutionary Parasitology $p BC-A $w Aquatic Parasitology $4 070 $T Biologické centrum AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1