Počet záznamů: 1
6-axis laser interferometry measurement system for a nanometrology standard
SYS 0451173 LBL 02559^^^^^2200373^^^450 005 20240103211254.4 100 $a 20151125d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a NL 200 1-
$a 6-axis laser interferometry measurement system for a nanometrology standard 215 $a 4 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0451171 $1 200 1 $a Photomechanics 2015. Book of Abstracts and Program $v S. 66-69 $1 210 $a Delft $c Delft University of Technology $d 2015 700 -1
$3 cav_un_auth*0222152 $a Hrabina $b Jan $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0286699 $a Holá $b Miroslava $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101586 $a Lazar $b Josef $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101538 $a Číp $b Ondřej $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1