Počet záznamů: 1
Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films
SYS 0449326 LBL 01437^^^^^2200337^^^450 005 20230418195510.1 014 $a 000239147800003 $2 WOS 014 $a 33746395146 $2 SCOPUS 017 70
$a 10.1107/S0021889806015500 $2 DOI 100 $a 20151029d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a GB 200 1-
$a Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256865 $1 011 $a 0021-8898 $e 1600-5767 $1 200 1 $a Journal of Applied Crystallography $v Roč. 39, č. 4 (2006), s. 487-501 $1 210 $c Wiley 610 0-
$a texture 610 0-
$a stress 610 0-
$a X-ray diffraction 610 0-
$a reciprocal space mapping 700 -1
$3 cav_un_auth*0100556 $a Šimek $b Daniel $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0281153 $a Kužel $b R. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0277062 $a Rafaja $b D. $y DE $4 070
Počet záznamů: 1