Počet záznamů: 1
Study of silicon nanostructures by microscopic methods
SYS 0432079 LBL 02203^^^^^2200385^^^450 005 20240103204653.0 100 $a 20140929d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a CZ 200 1-
$a Study of silicon nanostructures by microscopic methods 210 $a Praha $c ČVUT $d 2014 215 $a 72 s. $c P 610 0-
$a silicon nanostructures 610 0-
$a AFM 610 0-
$a Raman intensity mapping 610 0-
$a nanoindentation 610 0-
$a radial junctions 610 0-
$a Si NWs 610 0-
$a LPC polycrystalline silicon thin films 700 -1
$3 cav_un_auth*0294089 $a Hývl $b Matěj $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1