Počet záznamů: 1
Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku
SYS 0427287 LBL 02632^^^^^2200361^^^450 005 20240103204129.3 100 $a 20140331d m y slo 03 ba 101 0-
$a cze 102 $a CZ 200 1-
$a Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku 215 $a 1 s. $c C 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0425200 $1 200 1 $a Sborník 8. české fotovoltaické konference $1 210 $a Rožnov pod Radhoštěm $c Czech RE Agency, o.p.s $d 2013 610 0-
$a Raman 610 0-
$a microcrystalline silicon, 610 0-
$a atomic force microscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0300301 $a Ganzerová $b Kristína $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1