Počet záznamů: 1
Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy
SYS 0368141 LBL 02096^^^^^2200385^^^450 005 20240103195929.4 100 $a 20111201d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a DE 200 1-
$a Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy 215 $a 4 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0368140 $1 010 $a 978-3-8440-0058-0 $1 200 1 $a Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement $v S. 17-20 $1 210 $a Aachen $c Shaker Verlag $d 2011 610 0-
$a atomic force microscopy (AFM) 610 0-
$a nanometrology 610 0-
$a nanopositioning interferometry 610 0-
$a nanoscale 610 0-
$a iodine cells 610 0-
$a spectroscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0222152 $a Hrabina $b Jan $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101586 $a Lazar $b Josef $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101538 $a Číp $b Ondřej $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0221074 $a Klapetek $b P. $y CZ $4 070
Počet záznamů: 1