Počet záznamů: 1
Correction of sample tilt in FIB instruments
SYS 0358590 LBL 02196^^^^^2200325^^^450 005 20240103195056.2 014 $a 000292713900025 $2 WOS 014 $a 79958187029 $2 SCOPUS 017 $a 10.1016/j.nima.2010.12.003 $2 DOI 100 $a 20111031d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a NL 200 1-
$a Correction of sample tilt in FIB instruments 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257337 $1 011 $a 0168-9002 $e 1872-9576 $1 200 1 $a Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A $v Roč. 645, č. 1 (2011), s. 130-135 $1 210 $c Elsevier 610 0-
$a sample tilt 610 0-
$a extraction field 610 0-
$a correction of elliptical beam shape 610 0-
$a calculation of intensity distribution 610 0-
$a focused ion beams 700 -1
$3 cav_un_auth*0101603 $a Oral $b Martin $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101588 $a Lencová $b Bohumila $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1